技術(shù)文章
當(dāng)前位置:
主頁 >
技術(shù)文章 > 冷鏡式露點(diǎn)儀的正確使用及操作注意事項(xiàng)
冷鏡式露點(diǎn)儀的正確使用及操作注意事項(xiàng)
更新時間:2017-01-16 點(diǎn)擊次數(shù):4172
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,各行各業(yè)對各種氣體的要求越來越高,特別是氣體中微量水分的測量就顯得更加重要。 露點(diǎn)法是一種古老的溫度測量方法、隨著電子技術(shù)的發(fā)展,露點(diǎn)技術(shù)趨于完善?,F(xiàn)代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷,并且可以自動補(bǔ)償零點(diǎn)和連續(xù)跟蹤測量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎(chǔ)上,具有準(zhǔn)確度高,測量范圍寬的特點(diǎn),其準(zhǔn)確度僅次于重量法濕度計(jì)。因此,它不僅是一種工作儀器,而且也是長期以來普遍采用的標(biāo)準(zhǔn)儀器。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過程和實(shí)驗(yàn)室的溫度測量與控制,以及氣體行業(yè)中水分指標(biāo)測量等。在現(xiàn)代溫度測量技術(shù)中占有相當(dāng)重要的位置。 如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測量中應(yīng)注意的問題:
1. 鏡面的污染對露點(diǎn)測量的影響 在露點(diǎn)測量中,鏡面污染是一個突出的問題,特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴(yán)重的,但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會隨時間的增加而積累。為了消除污染的影響,zui直觀的方法是對被測氣體進(jìn)行過濾。同時根據(jù)具體情況定期或隨時清洗鏡面。此外,通過對鏡面的加熱,并通氣吹除污染雜物,在污染比較明顯的情況下也可以多次重復(fù)進(jìn)行節(jié)露和消露過程來實(shí)現(xiàn)。
2. 低霜點(diǎn)測量中的問題 露點(diǎn)儀是微量水測量中為數(shù)不多的zui有效的手段之一。但是在測量中有些問題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問題。在低含水量的情況下,霜層很薄,變化也慢,增加了檢霜的困難,如露點(diǎn)低于-65℃,鏡面上水分子移動性很小,結(jié)晶速度相應(yīng)下降,從霜層的出現(xiàn)到相對穩(wěn)定需要一定時間。霜點(diǎn)溫度越低,困難越大,測量誤差也迅速增加。
研究表明,當(dāng)霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍(lán)色絲狀結(jié)晶的薄霧。在這個溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當(dāng)于一個分子層的厚度,由此可見,在更低的霜點(diǎn)溫度下測量是難以進(jìn)行的。
另一個是過程問題,這種現(xiàn)象容易在高空探測中發(fā)生。 在低溫下,由于冰的結(jié)晶過程緩慢,往往在達(dá)到霜點(diǎn)溫度時霜層還未出現(xiàn),當(dāng)溫度繼續(xù)降低,水開始結(jié)冰,在過飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時的飽和水氣壓不是冰而應(yīng)該是過冷水的飽和水氣壓,如上所述,由于過冷現(xiàn)象,霜點(diǎn)測量誤差有時高達(dá)幾度,因此,低霜點(diǎn)測量要特別小心,保持足夠長的平衡時間。
除上所述還需注意下列幾個問題。 ü 氣路系統(tǒng)一定要密封性好,以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 ü 如果被測氣體直接排放入大氣,應(yīng)考慮大氣中的水分向測量系統(tǒng)內(nèi)部擴(kuò)散的問題,zui常用的辦法時在排氣口接上一段適當(dāng)長的管子,其長度個管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短,盡量減少接頭的數(shù)量和避免“死空間”,以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強(qiáng)的材料,如不銹鋼,聚四氟乙烯等。